보드 시뮬레이션 기법
해석은 결과를 예쁘게 만드는 일이 아니라 결정을 앞당기는 일이다. 배선(routing)을 마친 뒤에야 돌리면 고칠 수 있는 것이 거의 남아 있지 않다.
1. 해석은 두 번 돈다
섹션 제목: “1. 해석은 두 번 돈다”| 배선 전 해석 | 배선 후 해석 | |
|---|---|---|
| 무엇을 하는가 | 설계 규칙(design rule)을 만든다 | 만들어진 보드를 확인한다 |
| 입력 | 회로도(schematic) · 스택업(stackup) · 버퍼 모델 · 가정한 배선 길이 | 실제 배선 형상 |
| 나오는 것 | 임피던스(impedance) · 최대 길이 · 종단값 · 층 배정 · 간격 | 위반(violation) 목록 · 파형 · 아이 |
| 언제 | 배치 전 | 배선 후 · 출도 전 |
| 못 하면 | 규칙 없이 배선한다 | 만들고 나서 안다 |
앞의 해석이 훨씬 저비용이다. 토폴로지 하나를 바꾸는 데 몇 분이면 되고, 그 결과가 배선 규칙이 되어 수백 개 넷에 적용된다.
1.1 순서
섹션 제목: “1.1 순서”- 가장 단순한 구성부터 세운다 — 구동단 · 전송선(transmission line) 하나 · 수신단
- 한 번에 하나씩만 더한다(비아(via) → 스터브 → 커넥터 → 크로스토크(crosstalk))
- 각 단계에서 무엇이 얼마나 나빠졌는지 적는다
- 규칙으로 옮긴다 — 최대 길이 · 종단(termination) · 층 · 간격
3 번을 건너뛰면 마지막에 결과만 남고 무엇이 원인이었는지 모른다.
2. 모델 체인
섹션 제목: “2. 모델 체인”| 구간 | 흔히 쓰는 모델 | 어디서 오는가 |
|---|---|---|
| 송·수신 버퍼 | IBIS · SPICE · IBIS-AMI | 부품 제조사 |
| 패키지 | RLC · S 파라미터 | 부품 제조사 |
| 배선 · 비아 | 전송선 모델 · S 파라미터 | 스택업에서 계산 · 3D 해석 |
| 커넥터 · 케이블 | S 파라미터 | 제조사 |
모델 체인(model chain)의 정확도는 가장 부실한 구간이 정한다. 배선을 정밀하게 풀어도 버퍼 모델이 typ 하나뿐이면 결과는 그만큼이다.
버퍼 모델의 성질과 한계는 IBIS 란 무엇인가에서, 해석 절차와 파형 판독은 보드 시뮬레이션에서 다룬다.
3. S 파라미터 — 받았다고 쓸 수 있는 것이 아니다
섹션 제목: “3. S 파라미터 — 받았다고 쓸 수 있는 것이 아니다”수동 소자와 배선을 주파수 영역으로 기술한 자료다. 커넥터·케이블·패키지는 대개 이 형식으로 온다.
품질을 확인하지 않고 쓰면 해석이 조용히 틀린다.
| 검사 | 뜻 | 어기면 |
|---|---|---|
| 수동성 | 넣은 것보다 많은 에너지가 나오지 않는다 | 시간 영역 해석이 발산한다 |
| 인과성 | 입력보다 출력이 먼저 나오지 않는다 | 파형에 없는 앞선 응답이 생긴다 |
| 상호성 | 수동 구조에서 방향을 바꿔도 같다 | 자료 자체가 틀렸다는 신호 |
여기에 실무 확인이 둘 더 붙는다.
- 주파수 범위 — 해석할 대역을 덮는가. 모자라면 외삽이 결과를 만든다
- 직류 점 — 0 Hz 값이 있는가. 없으면 시간 영역 변환이 흔들린다
4. 재료 모델 — 손실이 실제보다 작게 나오는 이유
섹션 제목: “4. 재료 모델 — 손실이 실제보다 작게 나오는 이유”배선의 손실은 스택업에 적어 둔 값에서 나온다. 그 값이 단순하면 결과는 낙관적이 된다.
| 축 | 단순한 모델 | 넓은 대역에서 쓰는 모델 |
|---|---|---|
| 유전율 | 한 주파수의 상수 | 주파수에 따라 변하는 인과 모델 |
| 도체 | 매끈한 구리 | 표면 거칠기 모델 |
두 가지가 함께 필요하다. 유전율을 상수로 두면 위상과 지연이 어긋나고, 거칠기를 넣지 않으면 고주파 손실이 실제보다 작게 나온다 — 그 결과가 실제보다 크게 열린 아이다.
5. 해석 범위와 정밀도
섹션 제목: “5. 해석 범위와 정밀도”| 대상 | 흔히 쓰는 해석 | 3D 로 가야 할 때 |
|---|---|---|
| 균일한 배선 | 단면(2D) 해석으로 충분하다 | — |
| 비아 · 브레이크아웃 | 근사 모델 | 대역이 높을 때 |
| 커넥터 자리 · 패드(pad) | 근사 모델 | 구조가 배선과 크게 다를 때 |
| 평면 공진 · PDN | 평면(2.5D) 해석 | 국부 구조를 볼 때 |
전부 3D 로 푸는 것은 답이 아니다. 시간이 수십 배 들고, 그 시간은 대개 결과를 바꾸지 않는다. 어디가 지배적인지 먼저 알아내고 그 자리만 정밀하게 푸는 것이 순서다.
6. 측정과 대조
섹션 제목: “6. 측정과 대조”해석은 측정과 맞춰 봐야 믿을 수 있다. 맞춰 보는 대상은 채널이 아니라 모델이다.
| 측정 | 무엇을 확인하는가 |
|---|---|
| TDR | 임피던스가 자리마다 얼마인가 — 불연속의 위치가 보인다 |
| 주파수 응답(frequency response) | 손실과 반사(reflection)가 대역에 걸쳐 얼마인가 |
| 시험 쿠폰 | 재료 모델의 계수를 실제 공정에서 뽑는다 |
대조에서 어긋나면 고칠 곳은 대개 모델이지 해석기가 아니다 — 스택업의 두께·유전율·거칠기, 버퍼의 코너(corner), 커넥터 자료의 대역.
7. 전원 무결성 해석
섹션 제목: “7. 전원 무결성 해석”신호와 별개 축이다. 보는 것은 주파수에 대한 임피던스 곡선 하나다.
- 부품이 요구하는 목표 임피던스를 정한다
- 지금의 커패시터 구성으로 곡선을 구한다
- 목표선을 넘는 봉우리를 찾는다
- 커패시터의 값·개수·자리를 바꿔 다시 구한다
값을 바꾸는 것보다 자리를 바꾸는 쪽이 크게 듣는 경우가 많다 — 인덕턴스가 거리에서 오기 때문이다. 자세한 것은 전원 무결성과 EMI.
8. ImEDA 에서의 해석 자료
섹션 제목: “8. ImEDA 에서의 해석 자료”| 축 | 내용 |
|---|---|
| 스택업이 SI 값을 함께 든다 | 제조 값(두께·재질·εr·tanδ) 옆에 해석 값이 같은 자료에 있다 |
| 동박 | 표면 거칠기(µm RMS) · 거칠기 모델 · 도전율 |
| 유전체 | εr(f) 모델 · ε∞ · 적용 주파수 하한과 상한 |
| 참조 평면 | 그 층이 참조면인지 명시로 재정의할 수 있다 |
| 한 원본 · 여러 소비자 | 제조 출력 · 3D 단면 · 해석이 같은 스택업 하나를 읽는다 |
| 버퍼 모델 | IBIS 를 제조사·부품별 트리로 모아 둔다 |
| 회로 해석 | 자체 SPICE 엔진이 시간·주파수 영역 해석을 맡는다 |
첫 줄과 다섯째 줄이 이 설계의 요지다. 해석용 값을 따로 관리하지 않는다 — 제조에 쓰는 스택업과 해석에 쓰는 스택업이 같은 자료이므로, 층 구성을 바꾸면 해석 조건도 함께 바뀐다. 사본을 두면 어긋나고, 어긋나도 오류가 나지 않는다.
9. 확정 전 점검 항목
섹션 제목: “9. 확정 전 점검 항목”| 축 | 확인 |
|---|---|
| 순서 | 배선 전 해석으로 규칙을 만들었는가 |
| 모델 | 버퍼 모델의 코너(typ·min·max)를 다 돌렸는가 |
| 모델 | 체인에서 가장 부실한 구간이 무엇인지 아는가 |
| S 파라미터 | 수동성·인과성·상호성을 확인했는가 |
| S 파라미터 | 대역이 해석 범위를 덮는가 · 직류 점이 있는가 |
| 재료 | 유전율을 주파수 모델로 두었는가 |
| 재료 | 거칠기를 넣었는가 — 넣지 않으면 손실이 낙관적이다 |
| 범위 | 3D 로 풀 자리를 근거로 골랐는가 |
| 대조 | 시험 쿠폰으로 재료 계수를 확인했는가 |
| 대조 | 지그의 몫을 빼고 비교했는가 |
| 전원 | 목표 임피던스 곡선을 확인했는가 |